一、儀器名稱
中文名稱：多功能高解析X 光繞射儀
英文名稱：New D8 Discover X-Ray Diffraction System
英文簡稱：New D8 X-Ray
二、儀器廠牌、型號、購置年限
廠牌：Bruker AXS GmbH, Germany (德國)
型號：New D8 Discover
購置年限：2016 年
三、重要規格
1. 測角儀：系統規格為直立式且為θ -θ
2. 高解析X 光繞射儀專用樣品載台：具X, Y, Z, Ch i 及Ph i 五軸自由度尤拉環
3. 高壓電源供應器：(1)電壓調整：可1kV 昇降，操作範圍 20-50 kV (2)電流控制：可1mA 昇降，操作範圍5~60 mA
四、服務項目
數據收集，利用X 光測定已知或未知物的結構，適用於粉末、塊材，以及薄膜低掠角分析。
五、收費標準
| 計費項目 | 計費單位 | 計費數量 | 計費單價 |
數據分析及繞射圖譜 (本校學術單位或合作單位) |
時 |
1 |
600 元 |
數據分析及繞射圖譜 (外校學術單位或合作單位) |
時 |
1 |
1200元 |
數據分析及繞射圖譜 (廠商或其他單位) |
時 |
1 |
2500 元 |
數據分析及繞射圖譜 (廠商或其他單位) |
件 |
1 |
4000 元 |
六、開放時間表
週一至週五： 0900-1200， 1400 - 1700 (校內優先登記)
七、聯絡方式
儀器專家：程金保教授
02- 7 7 493521
cpcheng@ntnu.edu.tw
八、儀器送測須知
1. 校外單位由本儀器操作員協助分析，校內單位自行操作須經過訓練及輻射防護研習。
2. 試片最大面積可以到直徑10.0cm，但不得低於1.0cm×1.0cm，特殊尺寸請來信討論。
3. 必須對試片結構有一定的瞭解，包括基材、薄膜之大約厚度、成分、密度等。
4. 不接受具揮發性與毒性之試樣。